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[可靠性认证] MCU产品在应用端出现的EOS问题，如何有效分析，如何制定有效解决方案

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fengm 发表于 2025-8-8 13:25 | 显示全部楼层
去耦电容的类型、容量和位置是否适当，以减少电源噪声和瞬态电压。
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sheflynn 发表于 2025-8-8 15:26 | 显示全部楼层
外壳接缝处增加导电泡棉抑制静电积累；连接器增加防呆插槽防止反接。
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mmbs 发表于 2025-8-8 21:13 | 显示全部楼层
尝试在实验室环境中重现故障，以确认问题的可重复性和具体触发条件。
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jtracy3 发表于 2025-8-10 20:51 | 显示全部楼层
改进电磁兼容性设计，减少外部干扰对电路的影响。
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beacherblack 发表于 2025-8-10 22:48 | 显示全部楼层
TVS管选型错误、RC滤波缺失、未使用磁珠隔离噪声。
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lihuami 发表于 2025-8-11 16:14 | 显示全部楼层
在关键节点增加TVS二极管、ESD保护器件等，提高电路的抗EOS能力。
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pmp 发表于 2025-8-12 12:10 | 显示全部楼层
EOS问题是设计-工艺-应用全链条的综合体现
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rosemoore 发表于 2025-8-12 13:55 | 显示全部楼层
电机反电动势尖峰              
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jonas222 发表于 2025-8-12 15:41 | 显示全部楼层
关键信号线远离高压走线；电源平面分割并增加屏蔽地
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gygp 发表于 2025-8-12 17:24 | 显示全部楼层
过流、短路              
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tifmill 发表于 2025-8-12 19:29 | 显示全部楼层
增加电源滤波 在VDD入口处并联10μF钽电容+0.1μF陶瓷电容
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uptown 发表于 2025-8-12 21:34 | 显示全部楼层
使用万用表、示波器等工具测量MCU的电源电压、信号波形和电流
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claretttt 发表于 2025-8-14 13:49 | 显示全部楼层
对关键器件进行测试，检查是否存在损坏或性能下降。
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mickit 发表于 2025-8-14 15:31 | 显示全部楼层
光耦/数字隔离器切断地环路              
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updownq 发表于 2025-8-14 17:28 | 显示全部楼层
增加电源滤波、稳压电路，提高电源稳定性。
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yorkbarney 发表于 2025-8-14 19:12 | 显示全部楼层
TVS二极管钳位电压              
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