EMC CS116试验损坏12V供电CMOS输出驱动芯片

发表于 2014-7-7 10:57

我们是一个地面检测设备，与被测件连接电缆长度12米。原来电缆是带屏蔽层的，做CS116试验没有问题。由于实际应用环境是不带屏蔽层的，因此用不带屏蔽层的电缆做EMC，发现损坏我的CMOS驱动芯片CD4050。我的输出线上已经串了100欧姆电阻的。试验电流是5A水平，在10M频点的时候损坏器件。
请教如何整改。以前还真没有接触这个该死的CS116。谢谢！

发表于 2014-7-8 11:59

传导干扰只能通过屏蔽线缆来处理，屏蔽对处理此类问题是最有效的，考虑在线两端增加隔离试一下

发表于 2014-7-9 10:29

本帖最后由 ysdx 于 2014-7-9 10:30 编辑

是啊。问题是对方是星载设备。为了模拟实际情况，连接电缆是没用屏蔽的。
我这边加隔离也难啊。现在是损坏我的驱动芯片，即使加隔离，后面的驱动芯片是必须有的。
现在做了一看接口保护板子：TVS（并）+磁珠（串）+BAV99（并到电源和地）+1K电阻（串）。
不知道是否有效。等板子回来做试验看看。

发表于 2014-7-9 17:01

看你的整改方案应该有效，主要是前期的干扰时什么原因导致的要查清楚，是外面的干扰，还是其它原因。

发表于 2014-7-14 17:48

CS116是阻尼脉冲信号，以电流衡量。它的测试类型是施加共模干扰信号，试试增加共模电感和电容搭配试试。
陕西海泰电子EMC实验室，联系电话：18092746155

发表于 2015-5-4 14:26

隔离吧

EMC CS116试验损坏12V供电CMOS输出驱动芯片

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