我们自制imx6板子，用mfg_tools烧录失败，老卡在jump to os 地方。然后怀疑是DDR问题。又用了飞思卡尔的ddr_stress_tester_v2.30工具进行DDR测试。发现校准测试时，即使把频率降到297HZ，测试也会出现下面问题：
running Write level HW calibration
Write leveling calibration completed, update the following registers in your initialization script
MMDC_MPWLDECTRL0 ch0 (0x021b080c) = 0x001F001F
MMDC_MPWLDECTRL1 ch0 (0x021b0810) = 0x001F001F
MMDC_MPWLDECTRL0 ch1 (0x021b480c) = 0x001F001F
MMDC_MPWLDECTRL1 ch1 (0x021b4810) = 0x001F001F
Write DQS delay result:
Write DQS0 delay: 31/256 CK
Write DQS1 delay: 31/256 CK
Write DQS2 delay: 31/256 CK
Write DQS3 delay: 31/256 CK
Write DQS4 delay: 31/256 CK
Write DQS5 delay: 31/256 CK
Write DQS6 delay: 31/256 CK
Write DQS7 delay: 31/256 CK
Starting DQS gating calibration
. . . . . . . . . . . . . . ERROR FOUND, we can't get suitable value !!!!
dram test fails for all values.
压力测试也通不过，
DDR Freq: 297 MHz
t0.1: data is addr test
Address of failure: 0x100004c0
Data was: 0xff38ffdf
But pattern should match address
Error: failed to run stress test!!!
但是单独的32bit memory读写时，是没有问题的。
想问下像这种ddr_stress_tester_v2.30有没有提供源代码，因为如果测试出现问题，我们很想结合测试源代码知道我们的DDR设计哪个地方出问题了。飞思卡尔有没有哪个DDR_stress_test版本是有源代码的啊？没有源代码，比较难定位DDR的哪个地方出问题了。 |
楼主
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