如附图所示，在ICT测试过程中，电路的每个节点都有测试点，且通过夹具探针连接到测试设备。当探针都接触到单板后，探针、探针引线、设备对单板各节点会分别引入一定的负载（容性、感性负载，均无法确定）。
1、当A处上电48V时，开关电源一开始并不能正常工作（输出12V）。为输出12V，强制在C处，即U12第2脚激励2V（该脚极限电压为-0.3~3.5V），此时B处能够输出12V。即开关电源测试PASS。
2、开关电源测试PASS后，立即撤掉A处48V及C处2V。在B处施加12V电源用于后级所有电路的测试。
从原理上看，上述上电、控制均没问题（不瞒大伙，老外发过来的程序也经常这么干的），但问题是经常会烧毁U12，而且是U12第2脚内部对PGND烧毁，烧毁几率挺高，测试200片单板，有3~4片U12被烧毁，且测试过程中均未发现异常。现在呢，将开关电源相关针点都拔掉，然后直接从A处上48V，输出12V，并进行后面所有测试。这样经过1700多片单板的测试，未发现U12烧毁情况。这种上电方法是好，但对于单板开关电源本身有问题的，不能输出12V时，测试就无法定位到问题器件（因为已经拔针了）。
老板要求对这两种上电方法进行比较，找出前一种上电导致烧片的原因。
1、是否因为在U12第2脚叠加2V所致？
2、是否为后级12V上电瞬间通过变压器耦合过来瞬间高压？
3、是否为12V上后光耦将U12第2脚一直拉到低？
4、等等
恳请各路高手帮忙分析，献计献策！在下先谢过各位啦。 |
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