030 内部1.2V ADC测试

发表于 2022-6-1 18:46

测试条件：系统频率8M
单通道连续：
测量内部电压1.2V
参考电压VDDA
连续测量16次。并求出数据最大最小差值

ADCCLK=4M, SAM=10采样周期,转换率137K
1459 1489 1501 1506 1508 1509 1510 1510 1510 1509 1510 1510 1509 1509 1510 1510 51 最后一位为16个数据最大最小差值51

ADCCLK=2M, SAM=10采样周期,转换率68K
1496 1507 1510 1511 1510 1511 1509 1509 1510 1510 1510 1510 1510 1510 1509 1510 15 最后一位为16个数据最大最小差值15

ADCCLK=1M, SAM=10采样周期,转换率34K
1509 1510 1510 1510 1510 1510 1510 1510 1510 1510 1510 1511 1510 1511 1510 1510 2 最后一位为16个数据最大最小差值2

ADCCLK=0.5M, SAM=10采样周期,转换率17K
1510 1510 1509 1510 1510 1510 1510 1510 1510 1510 1510 1510 1510 1510 1511 1510 2 最后一位为16个数据最大最小差值2

ADCCLK=0.0625M, SAM=10采样周期,转换率2K
1511 1511 1510 1511 1510 1510 1510 1511 1511 1510 1511 1510 1510 1511 1511 1510 1 最后一位为16个数据最大最小差值1

发表于 2022-6-1 21:00

配置不同？采样精度，重复性有影响？

发表于 2022-6-2 07:53

偏差值不算大

发表于 2022-6-8 10:31

carpsnow 发表于 2022-6-1 21:00
配置不同？采样精度，重复性有影响？

上面体现了，越慢越稳

发表于 2022-6-9 09:22

ADC本身是一个高精度电路，需要按照不同的应用去好好调校一下，我不太相信一个量产的MCU的ADC，有这么差的性能表现。

发表于 2022-6-9 11:58

这个只是测试内部1.2V 才发现转换率在低到34K左右才能精准这个奇怪现象。感觉ADC可设置的采样时间太短。或者1.2V输出电流太弱。
测量1/3VDDA一切正常
ADCCLK=48M, SAM=10采样周期,转换率高达1665K也很精准
1367 1367 1367 1367 1367 1367 1367 1367 1367 1367 1367 1367 1366 1366 1367 1367 1

另外友情提示一下，该芯片由低时钟改变到高时钟的时候，要先设定FLASH等待不然有可能卡住。

发表于 2022-6-9 14:38

不出意外的话，1.2v 应该是BGR的输出，属于高阻输出，ADC采样需要打开输入buffer，才能测试高阻信号。
32K~24M， flash 0 wait cycle； 24M~48M， flash 需要配置1个wait cycle， 48M~72M， flash需要配置2个wait cycle

[CW32F030系列] 030 内部1.2V ADC测试

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