*阅读说明：以下排名不分先后，详细评测内容、过程及源码资料等请戳原链接查看。
有幸收到F435的开发板，马上打样了一块测试板，在这里先测试一下硬件I2C、大容量SRAM的图形性能。 测试板带了一个ST7789的屏，分辨率为320*240，因SRAM充足，直接使用双帧缓冲，占用300k（SRAM大就是爽，想怎么玩就怎么玩）。 热成像用的MLX90640，使用I2C通信，在这里使用了I2C2，引脚为PH2和PH3。
现在接下来测试下DVP性能。 热成像有一个缺点，在图像中能看到热源，但如果热源周围没有特别的温度标志物的话，很难精确看出热源的位置。所以使用一个可见光摄像头获取图像，再和热成像叠加，就能突出热源位置，方便定位。此时AT32F435 DVP功能派上用场了，可以获取摄像头图像，再和I2C获取的热成像数据进行图像叠加，一台双光融合热成像仪就完成了。 我使用的是OV7725摄像头，输出为640x480，显示屏是ST7789的，分辨率320*240，直接使用大SRAM双帧缓冲，320*240*2一帧，双帧正好300K。剩下的212K用于缓冲32*24的热成像数据和图像放大计算绰绰有余。得益于288MHz的高主频，在进行8倍图像线性放大和双光融合图像计算以后，仍可实现较高的帧率。
SWO是M4内核TRACE功能的输出管脚，可以为我们提供一种数据输出的手段，由于是内核功能，所以在AT32F435的用户手册上都没有过多介绍。这篇帖子就来介绍一下SWO功能在AT32F435上如何使用。
原本想测试点其他东西，但在使用原来在WB415上的程序时，发现执行效果在F435与WB415不同，为了找到原因，我花费了大量的时间和精力进行分析和测试，结果掉坑里了，导致其他想测试的没有做。现在将我遇到的问题和分析过程和解决方案和大家分享一下。 介绍一下问题背景，在F435上移植WS2812B的PWM+DMA驱动，此驱动我曾经在WB415上验证过没问题。 下面我只列举了有效的对比测试内容，我还做了很多其他方式的测试，但都没效果就没列举出来。为了方便查看波形状态，所有验证都是以24个波形输出为标准。
很早就关注AT系列的单片机，对它的高主频和大容量RAM非常感兴趣。最近有幸收到F435的开发板，立即利用手上的资源搭建了一个简单的测试平台，来测试一下它的性能。 我的项目要求实现每周波512点的采样频率，并且每个采样一次需要实现一次FT计算，因此对于RAM和计算能力要求高一些。在此测试中，暂时按照64点采样频率调试完成，以下是AD初始化部分代码，使用DMA直接读取。
分享一个我在项目中使用到的oled显示驱动，拓扑微CUG-2864ASWPG14 128*64的oled，使用IO口模拟实现并口驱动。
然开发板还没有收到，不过还是要提前做一下准备，做一个早起的鸟儿。 下载资料： 1、先看开发板资料 2、了解开发工程 3、了解开发环境 本次测评准备使用IAR8.20作为开发环境，创建自己的工程框架。
本次测评主要实现通过spi驱动3.5寸TFT液晶屏，显示血氧与心率，血氧和心率监测通过max30102模块提供数据。
开发板非常的厚实，且有保护壳，这就比上一次的好很多，也可能这个开发板属于高性能开发板吧。
上电就是运行流水灯程序。开搞我们自己的OLED显示程序，本次使用模拟方法快速检验。
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