为什么MCU在ADC采样时IO口有毛刺？

只看该作者 · 2024-10-6 19:46

硬件方面，降低雨的等效电阻应该会有所改善。

只看该作者 · 2024-10-9 14:59

你可以增加滤波电容试试

只看该作者 · 2024-10-16 07:54

主要是内部采样电容造成的

只看该作者 · 2024-10-16 08:05

设计PCB时，尽可能减小IO线路长度和接触电阻，以减少电路中的信号反射和干扰，从而降低毛刺的幅度。

只看该作者 · 2024-12-2 15:54

在使用MCU内部的ADC进行信号采样时，出现IO口波形的毛刺现象是非常常见的。

只看该作者 · 2024-12-2 15:54

在很多MCU中，ADC采样电路的工作原理可以简化为一个开关、电阻和电容的组合。具体来说，ADC的采样保持电路大致可以等效为以下结构：

开关：控制信号源和采样电容之间的连接。
采样电阻：在一定程度上决定了信号源的阻抗。
采样电容：用于在ADC转换开始时保持输入信号的电压。
当ADC触发开始采样时，开关闭合，外部信号会通过采样电阻充电或放电到采样电容。这一过程使得电容的电压逐渐跟随外部信号变化，直到电容电压稳定并准备好进行ADC的转换。

只看该作者 · 2024-12-2 15:55

ADC的开关并不是一个理想的“开/关”开关。当开关关闭时，电容和采样电阻相当于把外部信号源和内部电路连接起来，这可能引起外部信号在短时间内发生电压波动，表现为一个瞬间的毛刺。

电容充电过程：当开关闭合时，采样电容开始充电或放电，以便跟随外部信号的电压变化。如果信号源的阻抗较高或电容较大，电容充电的速度可能较慢，导致采样过程中电压波动较为显著。

只看该作者 · 2024-12-2 15:56

如果信号源的阻抗比较高，电容的充放电过程会比较慢，从而容易产生毛刺。如果信号源阻抗较低，电容充电的过程较快，毛刺会比较小或几乎没有。

只看该作者 · 2024-12-4 23:40

因为adc的输入引脚有一个采样电容，

只看该作者 · 2024-12-18 08:34

可以通过延迟启动ad转换处理来避免这个问题吗？