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[通用 MCU]

为什么MCU在ADC采样时IO口有毛刺?

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楼主: drer
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chenqianqian| | 2024-10-16 07:54 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览
主要是内部采样电容造成的

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流星flash| | 2024-10-16 08:05 | 只看该作者
设计PCB时,尽可能减小IO线路长度和接触电阻,以减少电路中的信号反射和干扰,从而降低毛刺的幅度。

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kzlzqi| | 2024-12-2 15:54 | 只看该作者
在使用MCU内部的ADC进行信号采样时,出现IO口波形的毛刺现象是非常常见的。

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kzlzqi| | 2024-12-2 15:54 | 只看该作者
在很多MCU中,ADC采样电路的工作原理可以简化为一个开关、电阻和电容的组合。具体来说,ADC的采样保持电路大致可以等效为以下结构:

开关:控制信号源和采样电容之间的连接。
采样电阻:在一定程度上决定了信号源的阻抗。
采样电容:用于在ADC转换开始时保持输入信号的电压。
当ADC触发开始采样时,开关闭合,外部信号会通过采样电阻充电或放电到采样电容。这一过程使得电容的电压逐渐跟随外部信号变化,直到电容电压稳定并准备好进行ADC的转换。

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kzlzqi| | 2024-12-2 15:55 | 只看该作者
ADC的开关并不是一个理想的“开/关”开关。当开关关闭时,电容和采样电阻相当于把外部信号源和内部电路连接起来,这可能引起外部信号在短时间内发生电压波动,表现为一个瞬间的毛刺。

电容充电过程:当开关闭合时,采样电容开始充电或放电,以便跟随外部信号的电压变化。如果信号源的阻抗较高或电容较大,电容充电的速度可能较慢,导致采样过程中电压波动较为显著。

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kzlzqi| | 2024-12-2 15:56 | 只看该作者
如果信号源的阻抗比较高,电容的充放电过程会比较慢,从而容易产生毛刺。如果信号源阻抗较低,电容充电的过程较快,毛刺会比较小或几乎没有。

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物联万物互联| | 2024-12-4 23:40 | 只看该作者
因为adc的输入引脚有一个采样电容,

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单芯多芯| | 2025-1-14 08:15 | 只看该作者
物理定位那些需要连续翻转的数字i/o,使其远离adc采样通道。

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理想阳| | 2025-1-16 23:07 | 只看该作者
这个问题是前段时间发现的。那时候电源线也会周期性的出现。我以为是供电问题。

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不想打补丁| | 2025-1-17 20:21 | 只看该作者
变相增加采样时间,将采样电容充电到正确的电位。

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V853| | 2025-1-19 15:33 | 只看该作者
这个小故障能从软件上避免吗?

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芯路例程| | 2025-1-19 20:11 | 只看该作者
由一堆串联电阻实现的t adc,

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shenxiaolin| | 2025-1-21 16:24 | 只看该作者
过来学习一下

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AIsignel| | 2025-1-24 09:46 | 只看该作者
该阶段将增加采样时间,以将采样电容充电至正确的电位。,,

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地瓜patch| | 2025-1-24 20:42 | 只看该作者
采样稳定中的毛刺

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jdqdan| | 2025-2-5 23:13 | 只看该作者
加个滤波电容会不会更好?

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天意无罪| | 2025-2-8 09:13 | 只看该作者
可以通过外部硬件电路和配置ADC采样频率来降低该毛刺现象

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noDevice| | 2025-2-11 17:12 | 只看该作者
如果有故障,是否需要过滤?

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LLGTR| | 2025-2-15 06:17 | 只看该作者
一定要加一个滤波电路来调整波形

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digit0| | 2025-2-18 17:35 | 只看该作者
adc采样期间,io端口出现毛刺,增加滤波电容或滤波算法

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