[通用 MCU] 为什么MCU在ADC采样时IO口有毛刺?

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结合国际经验 发表于 2024-6-30 18:44 | 显示全部楼层
确保采样保持电路的稳定性和响应速度。选择合适的采样保持时间(Sampling and Hold Time),使其能够在采样时刻捕获并保持信号的准确值,避免电容放电过程中的电压变化影响采样精度。
结合国际经验 发表于 2024-6-30 18:44 | 显示全部楼层
在设计PCB时,尽量减少IO线路长度和接触电阻,以减少电路中的信号反射和干扰,从而减少毛刺的幅度。
软核硬核 发表于 2024-7-10 16:16 | 显示全部楼层
adc不是由一堆串联电阻实现的吗
LinkMe 发表于 2024-7-16 08:48 | 显示全部楼层
这是由芯片引脚内部采样电容的充放电引起的。
逢dududu必shu 发表于 2024-8-17 01:01 | 显示全部楼层
如果信号变化很快,需要更长的保持时间。
IntelCore 发表于 2024-8-24 15:04 | 显示全部楼层
这个毛刺,能从软件上避免吗?
呐咯密密 发表于 2024-8-27 10:05 | 显示全部楼层
这个是硬件设计导致的
suncat0504 发表于 2024-8-27 20:28 | 显示全部楼层
能否通过延迟启动AD转换处理,避开这个问题?
nowboy 发表于 2024-9-7 07:12 | 显示全部楼层
这与ADC输入引脚上的采样保持电容有关,它是由电容的充电和放电过程引起的。
dreamCar 发表于 2024-9-7 21:57 | 显示全部楼层
保留需要物理翻转的编号、adc和采样通道、I/o。,
IFX-MAX 发表于 2024-9-13 15:10 | 显示全部楼层
MessageRing 发表于 2023-12-26 10:20
ADC不是用一群电阻串联实现的吗

用电阻网络分压,然后查找比较的叫SAR ADC。速度块,分辨率低。
未来AI 发表于 2024-9-13 16:27 | 显示全部楼层
ADC内部振荡器的不稳定性可能会在转换过程中引起毛刺。这可能与温度、电源电压等外部因素有关。
AutoMotor 发表于 2024-9-16 17:43 | 显示全部楼层
这一阶段会增加采样时间,使采样电容充电至正确的电位。,
szt1993 发表于 2024-9-24 13:12 | 显示全部楼层
采样滤波需要不断优化
星辰大海不退缩 发表于 2024-9-25 19:33 | 显示全部楼层
使用算法滤波进行排查干扰
LOVEEVER 发表于 2024-9-27 13:26 | 显示全部楼层
加一个滤波电容会好一点嘛?
OKAKAKO 发表于 2024-9-28 15:45 | 显示全部楼层
有毛刺是不是需要滤波处理
shenxiaolin 发表于 2024-9-29 11:44 | 显示全部楼层
外部干扰以及芯片性能。
小小蚂蚁举千斤 发表于 2024-9-29 19:05 | 显示全部楼层
一定要增加滤波电路进行波形的整定
AdaMaYun 发表于 2024-9-30 11:18 | 显示全部楼层
在ADC采样时IO口有毛刺添加滤波电容或者滤波算法
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