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[通用 MCU]

为什么MCU在ADC采样时IO口有毛刺?

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楼主: drer
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确保采样保持电路的稳定性和响应速度。选择合适的采样保持时间(Sampling and Hold Time),使其能够在采样时刻捕获并保持信号的准确值,避免电容放电过程中的电压变化影响采样精度。

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结合国际经验| | 2024-6-30 18:44 | 只看该作者
在设计PCB时,尽量减少IO线路长度和接触电阻,以减少电路中的信号反射和干扰,从而减少毛刺的幅度。

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软核硬核| | 2024-7-10 16:16 | 只看该作者
adc不是由一堆串联电阻实现的吗

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LinkMe| | 2024-7-16 08:48 | 只看该作者
这是由芯片引脚内部采样电容的充放电引起的。

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逢dududu必shu| | 2024-8-17 01:01 | 只看该作者
如果信号变化很快,需要更长的保持时间。

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IntelCore| | 2024-8-24 15:04 | 只看该作者
这个毛刺,能从软件上避免吗?

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呐咯密密| | 2024-8-27 10:05 | 只看该作者
这个是硬件设计导致的

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suncat0504| | 2024-8-27 20:28 | 只看该作者
能否通过延迟启动AD转换处理,避开这个问题?

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nowboy| | 2024-9-7 07:12 | 只看该作者
这与ADC输入引脚上的采样保持电容有关,它是由电容的充电和放电过程引起的。

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dreamCar| | 2024-9-7 21:57 | 只看该作者
保留需要物理翻转的编号、adc和采样通道、I/o。,

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