STM32的ADC精度如何提升？

发表于 2025-3-20 11:16

合理设计PCB布局，减小其他信号对ADC的干扰。模拟信号和数字信号应分开布局，避免相互干扰。同时，ADC的走线应尽量短且直，以减少噪声引入。

发表于 2025-3-20 11:39

使用去耦电容（100nF+10pF）靠近ADC引脚，降低电源纹波。

发表于 2025-3-20 12:06

在允许的情况下，增加ADC的采样周期也可以提高采样精度。采样周期越长，采样电容充电越充分，采样结果的准确性越高。

发表于 2025-3-20 12:45

用纹波噪声系数更小的LDO为ADC供电，可以减小电源的纹波和噪声，从而提高ADC的精度。

发表于 2025-3-20 13:39

使用STM32提供的ADC校准功能，校正ADC的偏差

发表于 2025-3-20 14:09

优化供电、信号调理、PCB布局

发表于 2025-3-20 14:40

采集ADC数据时，可以降低CPU主频和其他可能影响ADC的时钟频率，以减少数字电路对模拟电路的干扰，提高ADC的精度。

发表于 2025-3-20 14:52

分辨率、采样时间、时钟源。

发表于 2025-3-20 15:33

尽量降低信号源的阻抗，使用缓冲放大器可以有效减小阻抗效应。

发表于 2025-3-20 15:53

在ADC输入端添加低通滤波器，可以进一步滤除高频噪声和干扰信号，提高采样信号的准确性。

发表于 2025-3-20 16:08

在ADC初始化时，增加采样时间可以提高转换精度

发表于 2025-3-20 16:49

单点接地，使用星型拓扑连接模拟地。

发表于 2025-3-20 17:30

模拟信号路径尽可能短且避免与数字信号交叉，减少噪声干扰。

发表于 2025-3-20 17:41

降低ADC的转换速率可以减少转换噪声，从而提高精度。

发表于 2025-3-21 15:00

使用过采样和平均

发表于 2025-3-22 01:14

STM32的ADC（模数转换器）精度在大多数应用中已经足够，但对于高精度测量需求（如传感器数据采集、精密仪器等），可能需要进一步优化。

发表于 2025-3-22 02:11

对于高精度测量需求，12位ADC可能不够，但可以通过外置ADC的方案，解决该问题。

发表于 2025-3-22 03:23

提高参考电压稳定性，用外部高精度参考电压源（如TL431、REF5025）代替内部参考电压。确保参考电压源的噪声和温漂尽可能低。

发表于 2025-3-22 04:31

以高于目标分辨率的频率采样，然后对采样结果进行平均，如，通过16次过采样，可以将12位ADC的有效分辨率提高到14位。

发表于 2025-3-22 05:43

STM32的ADC支持内部校准，可以减少偏移误差和增益误差。

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