灵动MCU的ADC采样精度概览

发表于 2025-5-17 22:01

在电路中加磁珠，能有效滤除高频干扰，提高信号质量。

发表于 2025-5-19 15:38

这样做可以减少电磁干扰，但要注意连接点要牢固，防止接触不良。

发表于 2025-5-21 09:16

使用低噪声电源，并在电源引脚附近添加去耦电容。

发表于 2025-5-21 11:20

减少噪声干扰，确保模拟信号的完整性。

发表于 2025-5-21 13:04

在电源引脚附近放置去耦电容，以减少高频噪声。

发表于 2025-5-21 14:45

采样电容靠近ADC引脚，减少寄生电感

发表于 2025-5-21 16:27

内置温度补偿和增益/偏移校准，减少环境波动影响

发表于 2025-6-30 23:28

反映 ADC 测量值与真实值的接近程度，受多种因素影响：
积分非线性（INL）：最大偏差通常为 ±0.5LSB 至 ±2LSB
微分非线性（DNL）：理想值为 ±1LSB，实际通常 <±0.5LSB
参考电压精度：外部参考电压精度直接影响整体精度

发表于 2025-7-2 12:53

高阻传感器输出弱，需运放放大并稳定，确保ADC准确采样。

发表于 2025-7-3 21:51

ADC的最高采样精度是16位，这意味着它可以提供从0到65535的数值范围，每个数字代表的电压差异大约是输入电压的1/65535。

发表于 2025-7-7 16:01

自动调整电路参数，应对温度和电源波动影响。

发表于 2025-7-8 11:49

硬件过采样技术通过多次读取模拟信号并取平均值，能增加ADC的分辨率，使测量结果更精确。

发表于 2025-7-8 15:25

选择MCU时，注意其型号和系列会影响采样精度。

发表于 2025-7-9 17:48

采样率和噪声是影响信号采集质量的关键因素，不能忽视。

发表于 2025-7-9 20:46

这ADC精度不错，适合低功耗环境，采集模拟信号足够用了。

发表于 2025-7-10 20:19

高分辨率ADC像放大镜，看电压波动更清晰，适合做精密测量，比如传感器读数、电源状态检测。

发表于 2025-7-11 10:38

通过软件调整VDDA/2的电压值，以减少测量误差。

发表于 2025-7-12 07:23

布局合理能降低电磁干扰，电路更稳定。

发表于 2025-7-13 11:23

确保ADC和参考电压用独立稳压电源，减少干扰。

发表于 2025-7-15 13:47

灵动MCU的ADC误差在1到3个LSB之间，说明转换精度较高。

[MM32硬件] 灵动MCU的ADC采样精度概览