用ADC测电压怎么总是偏高一点点？

发表于 2025-5-13 21:55

可以通过温度补偿的方法来减少温度对测量结果的影响，或者将设备放置在温度相对稳定的环境中。

发表于 2025-5-14 09:30

若使用分压电路（如测量高电压时串联电阻分压），电阻精度（如±1%或±5%）会导致实际电压与理论值偏差

发表于 2025-5-14 10:06

STM32L0的ADC输入阻抗约为50kΩ（典型值），若外部电路阻抗过高（如分压电阻过大），会导致信号衰减或采样延迟，使测量值偏高

发表于 2025-5-14 10:50

在ADC输入端并联10nF电容，若测量值恢复正常，则说明输入阻抗过高导致信号失真

发表于 2025-5-14 11:00

STM32L0内部参考电压（VREFINT）存在±1.5%的初始误差，若未校准，直接使用标称值（如1.224V）计算会导致测量值偏高。

发表于 2025-5-14 13:14

STM32L0x1系列VREFINT典型值为1.224V，但实际值可能为1.200V~1.248V

发表于 2025-5-14 15:48

若ADC采样时间（SMPR寄存器）设置过短，采样电容无法充分充电，导致测量值偏高

发表于 2025-5-14 18:00

ADC时钟（ADCCLK）过高会导致采样时间不足，或过低导致精度下降

发表于 2025-5-14 18:09

检查电源电压，确保ADC输入电压范围正确，排除电源噪声干扰。

发表于 2025-5-14 19:23

未启用过采样（Oversampling）或多次采样平均，导致测量值受噪声干扰而偏高

发表于 2025-5-14 20:00

若直接使用默认VREFINT值（如1.224V）计算电压，而未读取芯片内部校准值（存储在FLASH_OPTR或通过HAL_ADCEx_Calibration_Start校准），会导致测量值偏高

发表于 2025-5-14 21:17

未启用ADC右对齐（ADC_CFGR1_ALIGN）或未正确处理12位/10位/8位输出格式，可能导致数据解析错误

发表于 2025-5-14 21:20

如果输入引脚的连接不稳定，存在接触电阻，或者存在漏电现象，都会导致测量结果不准确。

发表于 2025-5-14 22:03

如果电源电压不稳定，会影响参考电压和输入信号的稳定性，导致测量结果不准确。

发表于 2025-5-14 22:36

通过多次采样取平均减少噪声影响

发表于 2025-5-15 08:08

差多少？电路图怎么设计的？

发表于 2025-5-15 08:08

差多少？电路图怎么设计的？

发表于 2025-5-15 10:11

更换高质量参考电压源

发表于 2025-5-15 10:51

ADC读数受噪声影响波动，通过多次采样平均可提高精度。

发表于 2025-5-15 12:54

仅使用单通道模式，并关闭扫描功能，观察读数是否稳定。

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