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[STM32L0]

用ADC测电压怎么总是偏高一点点?

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楼主: 公羊子丹
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可能导致通道间串扰。              

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cashrwood| | 2025-5-15 14:04 | 只看该作者
ADC校准未执行              

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maqianqu| | 2025-5-15 14:42 | 只看该作者
多通道采样时未正确配置扫描模式或间隔时间,导致通道间残留电荷影响后续采样。

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linfelix| | 2025-5-15 15:22 | 只看该作者
若ADC分辨率设置为低于实际值(如12位模式误设为10位),或数据对齐方式(左对齐/右对齐)与后续处理不匹配,导致数值计算错误。

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nomomy| | 2025-5-15 16:29 | 只看该作者
ADC 测量电压是基于参考电压进行的。

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plsbackup| | 2025-5-15 17:08 | 只看该作者
VREF+电容布局靠近芯片引脚,减少噪声干扰。

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yorkbarney| | 2025-5-15 17:40 | 只看该作者
电压测量偏高通常由参考电压不稳、校准不当或采样不足引起。

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流星flash| | 2025-5-15 18:04 | 只看该作者
采样平均多次确实能提高信号质量,减少噪声干扰。

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averyleigh| | 2025-5-15 18:04 | 只看该作者
精度和温度漂移是否满足需求              

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updownq| | 2025-5-15 18:52 | 只看该作者
增加滤波电容、优化PCB布局、隔离数字信号。

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fengm| | 2025-5-15 19:24 | 只看该作者
外部参考电压源的输出有波动或者本身精度不高,都会影响测量结果。

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plsbackup| | 2025-5-15 19:46 | 只看该作者
使用高精度万用表测量分压电阻的实际阻值,并计算理论分压比。

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bartonalfred| | 2025-5-15 20:08 | 只看该作者
ADC供电(VDDA)存在噪声或纹波,直接影响参考电压稳定性。

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biechedan| | 2025-5-15 20:30 | 只看该作者
ADC输入阻抗(典型值约50kΩ)与分压电阻或信号源内阻形成分压,导致实际采样电压低于输入电压。

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rosemoore| | 2025-5-15 20:49 | 只看该作者
在输入信号线上串联一个小电阻 ,观察读数是否趋于稳定。

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gygp| | 2025-5-15 21:12 | 只看该作者
在ADC输入端增加磁珠              

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pmp| | 2025-5-15 21:46 | 只看该作者
在实际电路中,输入信号可能会受到电磁干扰、电源噪声等影响。

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yeates333| | 2025-5-15 22:24 | 只看该作者
模拟地(AGND)与数字地(DGND)单点连接。

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51xlf| | 2025-5-16 10:44 | 只看该作者
上电时若ADC校准程序过早执行,可能基于未稳定的电压完成校准,导致后续测量偏差

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claretttt| | 2025-5-16 11:24 | 只看该作者
温度变化会影响 ADC 的性能和电路中元件的参数。

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