用ADC测电压怎么总是偏高一点点？

发表于 2025-5-15 12:54

仅使用单通道模式，并关闭扫描功能，观察读数是否稳定。

发表于 2025-5-15 13:22

可能导致通道间串扰。

发表于 2025-5-15 14:04

ADC校准未执行

发表于 2025-5-15 14:42

多通道采样时未正确配置扫描模式或间隔时间，导致通道间残留电荷影响后续采样。

发表于 2025-5-15 15:22

若ADC分辨率设置为低于实际值（如12位模式误设为10位），或数据对齐方式（左对齐/右对齐）与后续处理不匹配，导致数值计算错误。

发表于 2025-5-15 16:29

ADC 测量电压是基于参考电压进行的。

发表于 2025-5-15 17:08

VREF+电容布局靠近芯片引脚，减少噪声干扰。

发表于 2025-5-15 17:40

电压测量偏高通常由参考电压不稳、校准不当或采样不足引起。

发表于 2025-5-15 18:04

采样平均多次确实能提高信号质量，减少噪声干扰。

发表于 2025-5-15 18:04

精度和温度漂移是否满足需求

发表于 2025-5-15 18:52

增加滤波电容、优化PCB布局、隔离数字信号。

发表于 2025-5-15 19:24

外部参考电压源的输出有波动或者本身精度不高，都会影响测量结果。

发表于 2025-5-15 19:46

使用高精度万用表测量分压电阻的实际阻值，并计算理论分压比。

发表于 2025-5-15 20:08

ADC供电（VDDA）存在噪声或纹波，直接影响参考电压稳定性。

发表于 2025-5-15 20:30

ADC输入阻抗（典型值约50kΩ）与分压电阻或信号源内阻形成分压，导致实际采样电压低于输入电压。

发表于 2025-5-15 20:49

在输入信号线上串联一个小电阻，观察读数是否趋于稳定。

发表于 2025-5-15 21:12

在ADC输入端增加磁珠

发表于 2025-5-15 21:46

在实际电路中，输入信号可能会受到电磁干扰、电源噪声等影响。

发表于 2025-5-15 22:24

模拟地（AGND）与数字地（DGND）单点连接。

发表于 2025-5-16 10:44

上电时若ADC校准程序过早执行，可能基于未稳定的电压完成校准，导致后续测量偏差

[STM32L0] 用ADC测电压怎么总是偏高一点点？