用ADC测电压怎么总是偏高一点点？

发表于 2025-5-16 11:24

温度变化会影响 ADC 的性能和电路中元件的参数。

发表于 2025-5-16 11:46

ADC参考电压和输入阻抗随温度变化，导致读数漂移。

发表于 2025-5-16 12:11

延长采样时间、降低时钟频率、关闭扫描模式。

发表于 2025-5-16 12:44

实施零点/增益校准、平均滤波或过采样。

发表于 2025-5-16 13:06

STM32 的 ADC 通常需要进行校准操作，以提高测量的准确性。

发表于 2025-5-16 13:30

将单端输入误配置为差分输入，或未正确连接参考地。

发表于 2025-5-16 13:50

电源上的高频噪声（如开关电源纹波）通过ADC输入路径耦合，导致读数波动或偏高。

发表于 2025-5-16 14:10

采样时间过短会导致输入电容未充分充电，尤其在高阻抗信号源时，读数可能偏高

发表于 2025-5-16 14:33

在分压电阻后并联一个10nF~100nF的陶瓷电容，降低阻抗对采样结果的影响。

发表于 2025-5-16 15:05

ADC在上电或唤醒后未执行校准，导致内部偏移误差未被修正。

发表于 2025-5-16 15:31

若使用内部参考电压，其实际值可能因芯片个体差异存在±1%~2%的偏差。

发表于 2025-5-16 15:49

引脚焊接不良、PCB 板布线不合理等。需要检查引脚连接是否牢固，排查 PCB 板上是否存在短路、断路等问题。

发表于 2025-5-16 16:12

#define SAMPLE_COUNT 16
uint32_t adc_sum = 0;
for (int i = 0; i < SAMPLE_COUNT; i++) {
ADC_SoftwareStartConvCmd(ADC1, ENABLE);
while (!ADC_GetFlagStatus(ADC1, ADC_FLAG_EOC));
adc_sum += ADC_GetConversionValue(ADC1);
}
uint32_t adc_avg = adc_sum / SAMPLE_COUNT;

发表于 2025-5-16 16:35

在ADC输入端添加电压跟随器（如OPA333等低功耗运放），将输入阻抗降至1MΩ以下。

发表于 2025-5-16 16:55

输入信号源阻抗过高

发表于 2025-5-16 17:14

参考电压不稳定或偏差

发表于 2025-5-16 17:33

电源噪声或PCB布线问题可能使VREF+波动，导致ADC读数不稳定

发表于 2025-5-17 08:37

外部电阻会影响IO脚的输入电平，可能造成信号不稳定。

发表于 2025-5-18 16:39

手动校准就是调整零点和斜率，这样调整后数据更精确。

发表于 2025-5-19 11:27

并联电容可滤除高频噪声，提高ADC读数稳定性

[STM32L0] 用ADC测电压怎么总是偏高一点点？

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