[APM32E1] ADC检测之硬件设计问题

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updownq 发表于 2026-8-10 16:12 | 显示全部楼层
在分压节点与 ADC 引脚之间增加一颗运放电压跟随器
timfordlare 发表于 2026-8-12 14:24 | 显示全部楼层
为什么大电阻会导致偏差?              
youtome 发表于 2026-8-12 20:41 | 显示全部楼层
分压总阻值控制在100kΩ~1MΩ区间,既把静态功耗控制在μA级,又能大幅降低ADC输入阻抗带来的并联分流影响。
eefas 发表于 2026-8-14 13:28 | 显示全部楼层
选用 Σ-Δ 型 ADC,输入阻抗 GΩ 级别,分压电阻可放宽至 MΩ 级,分流影响几乎可以忽略
pmp 发表于 2026-8-14 16:20 | 显示全部楼层
在分压上电阻串联一个IO控制的MOS管,仅在ADC采样瞬间导通分压回路,其余时间完全关断,将静态功耗降到nA级,彻底规避大阻值分压的矛盾。
usysm 发表于 2026-8-15 20:15 | 显示全部楼层
间歇采样控制电路的设计要点有哪些?
cemaj 发表于 2026-8-16 11:14 | 显示全部楼层
在分压节点和ADC引脚之间串联10Ω小电阻,搭配100nF陶瓷电容组成一阶低通滤波,既抑制高频噪声,又不影响直流采样精度。
plsbackup 发表于 2026-8-16 13:45 | 显示全部楼层
在分压输出端增加高输入阻抗的运放电压跟随器,彻底隔离ADC输入阻抗对分压网络的影响,完全消除采样偏差。
biechedan 发表于 2026-8-16 18:42 | 显示全部楼层
在软件允许的情况下,延长ADC采样周期是0成本、快速见效的方法。
tabmone 发表于 2026-8-17 10:57 | 显示全部楼层
分压电阻热噪声对SOC估算的具体影响案例?
rosemoore 发表于 2026-8-17 12:40 | 显示全部楼层
ADC 采样前延时等待 + 软件均值滤波
yorkbarney 发表于 2026-8-17 14:55 | 显示全部楼层
若功耗和PCB面积允许,增加一个电压跟随器是最彻底的高精度解决方案。
nomomy 发表于 2026-8-17 16:41 | 显示全部楼层
平时使用兆欧级电阻分压,并将分压电阻的接地端通过一个 NMOS 管连接到 GND。
春日负喧 发表于 2026-8-21 09:58 | 显示全部楼层
在实际应用中,过大的分压电阻确实会带来问题,比如采样误差和响应时间变慢。50kΩ的建议值听起来很合理,可以有效平衡精度和功耗。
别乱了阵脚 发表于 2026-9-3 10:44 | 显示全部楼层
50kΩ的上限经验值很实在,之前用100kΩ分压测锂电池,满电4.2V采样出来只有3.9V,查了半天才发现是这个问题。
LOVEEVER 发表于 2026-9-5 18:36 | 显示全部楼层
分压电阻的设计还是需要计算的
月亮一键变蓝 发表于 2026-9-9 20:41 | 显示全部楼层
除了总阻值,还要注意电阻的匹配精度,1%精度的电阻比分压误差对ADC的影响往往更大,建议关键采样用0.1%。
小夏天的大西瓜 发表于 2026-9-9 21:07 | 显示全部楼层
ADC硬件设计建议关注参考电压纹波与采样保持电容,输入阻抗大时加缓冲,采样引脚并小电容抑制高频噪声,提升稳定度。
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