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2007年12月专题讨论----单片机程序丢失的原因与抑制方法

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楼主: 救火车
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bg6nw| | 2007-12-26 21:11 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览

‘电子’是个好动的家伙

电子不但会挥发走,还会挥发回来的:-)
记得大概十年前,看过一篇**,提到EPROM的擦除时强调:紫外线强度要足够,时间要长一些,如果经测试一分钟照射能擦空,最好照射3-5分钟,因为勉强擦空的片子不保险,过一会有些数据还会随机的回来。
另外我还想到,FLASH中的数据虽然在塑料里面封装着,自然界中的微量射线会不会使浮栅中的电子获得能量逃逸,与热逸散一同影响着数据的最终寿命?
有人试验过X射线可以擦除OTP芯片。

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xjds| | 2007-12-27 11:01 | 只看该作者

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蓝色日出| | 2007-12-28 00:07 | 只看该作者

插不上嘴:(

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xzl| | 2007-12-28 18:32 | 只看该作者

呵呵,我以前遇到过

是由于干扰或复位不好,导致程序进入ISP.
其实STC也有考虑,不是让你在P1.0/P1.1上做**吗,你自己不注意而已!
此外,以前用汇编写程序,有软件陷阱的说法,现在都用C了.有谁在C语言里设置软件陷阱了?

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linqing171| | 2007-12-29 14:03 | 只看该作者

看看

看大家说了这么多了,其实只要是尽量保证有效期就可以了。
做软件的防**的,就是三年就非常成功了。
做黑白电视机的,也就是熊猫保证十年的MTBF,其实达不到,寿命试验的概率模型有问题。

1、Flash 的寿命,有他本身决定了,但是也有几个影响的地方,封装好的话湿度应该不会影响吧?这个咱不懂。谁懂的说下。 电子度越的数量跟电压有关系的吧? 度越过去的电子的电场强度 和外界的电场强度加起来多大是个0电平? 烧写器慢的就一定好了吧?
2、硬件设计的时候抗干扰,防复位设计,都是怕巧合的情况下误操作吧? 这个硬件设计者应该考虑了不少了吧? 
3、软件出错,软件的健壮性肯定要考虑硬件的不周。低电压复位要是芯片不集成这个功能的话,外面加不太好吧,老板说又是钱啊。

似乎公司里的高低温和四角试验测量上面的哪个都没有用。还好消费电子,能用5年就可以了。

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linqing171| | 2007-12-29 14:22 | 只看该作者

独立的Flash更不好弄了。

刚看了下MT28F128J3RG的资料。
当Reset的时候所有的erase,write将abort,相关数据将valid。
刚哪位说在4.5V还没有降到不能写的之前的这个时间没有了。
郁闷啊,独立的Flash怎么保证低压不误操作?

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ijk| | 2007-12-31 14:46 | 只看该作者

程序代码也可以实现三选二的方式运行

  也来凑个热闹。
  程序代码也可以实现三选二的方式运行,准确来说,程序代码保存在Flash时也可以加上校验,使用类似NAND FLASH的ECC校验的道理,从而保证程序代码在恶劣环境下的高可用性。目前,已经有厂家这样设计芯片了。

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