求教香版主,STM32的 FLASH 擦除或者编程一定要回读验证吗?

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 楼主| gbchang 发表于 2013-8-8 09:54 | 显示全部楼层 |阅读模式
求教香版主,资料上介绍擦除或者编程时,都要求在操作完成后,再读出来验证是否成功。

也就是说,状态寄存器只指示了操作是进行中,还是操作完成,结果如何是无法知道的,对吧?

如果 EOP 标志指示为“成功”,那是不是就不用再读回验证了呢?

还希望给出一个完整而不冗余的流程,以擦除为例。
airwill 发表于 2013-8-8 11:36 | 显示全部楼层
推荐的做法, 为了数据的正确性, 建议这么做.
但是我在测试中好象也没有遇到编程错误的情况.
 楼主| gbchang 发表于 2013-8-8 15:00 | 显示全部楼层
那个EOP标志,只在寄存器介绍里讲了,而在给出的擦除/编程流程里没有使用?
在库函数里,也没有使用?
是不是那个 EOP 标志不准确啊?

如果判断是否成功都是用原始的读回方法,那就明确说,“必须”这样做好了。
hawksabre 发表于 2013-8-8 20:46 | 显示全部楼层
不是很懂   楼主  帮你顶一个      看看别人的意见
 楼主| gbchang 发表于 2013-8-9 15:14 | 显示全部楼层
忽然觉得,手册中的“建议”很不负责任。

如果我在论坛里,那我可以建议其它网友怎样怎样,或者版主可以建议我怎样怎样,因为不需要对结果负责。
但官方手册还说“建议”,就说不过去了,芯片这东西,只有厂家你自己知道里面是怎么回事,你说一就不能是二的,
正确的就是正确的,就要强制要求执行,
不确定的就是不确定的,你明说没人怪你,
错误的,那你声明,下次改版时修正就好了。

就比如这个 FLASH 擦除,如果你说擦完后,不保证会擦除干净,那就直说,用户自然知道怎样去检查,不用你“建议”怎样怎样。

最浑的是,寄存器里有的东西(EOP标志),流程中不用,库函数不用,那你搞这个标志做啥子呀。
如果是试验中的东西,你可以定义成保留,用户也就不操心它了。(据我观察,FLASH->SR.1是保留位,它是会变化的)
chuangpu 发表于 2013-8-9 20:16 | 显示全部楼层
推荐手册   在看的时候   会发现有很多错误   真的感觉很无语  只能一遍一遍的尝试了   

评论

您说得对,也许这就是这类问题的,最有效解决方法了。  发表于 2013-8-10 18:52
chuangpu 发表于 2013-8-9 20:17 | 显示全部楼层
做电子设计   必须要将心静下来  压着性子  一步一步的调试

评论

嗯,压住性子,沉下来,就是这样。  发表于 2013-8-10 18:53
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