可靠性参数<br /><br />符号 参数 最小 最大 单位 参考测试模式<br />NEND<br /> 耐久性 1,000,000 周期/字节 MIL-STD-883 测试方法1033<br />TDR<br /> 数据保存时间 100 年 MIL-STD-883 测试方法1008<br />VZAP<br /> ESD 2000 V MIL-STD-883 测试方法3015<br />ILTH<br /> 上拉电流 100 mA JEDEC 标准17
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