自检程序N32G435

发表于 2025-4-11 16:16

想了解一下这个自检程序的用途

发表于 2025-4-12 10:30

60730认证，61508认证听过没

发表于 2025-5-12 15:08

针对N32G435自检程序的用途，可从硬件功能验证、系统可靠性保障及开发调试支持三方面展开

发表于 2025-5-12 16:12

N32G435自检程序可针对芯片内置的关键外设模块进行功能性测试

发表于 2025-5-12 17:27

通过ADC对内部参考电压基准源（2.048V）进行采样，验证ADC的零点漂移和增益误差是否在规格范围内；利用内置DAC输出标准信号，结合ADC回采形成闭环测试，确保模拟信号链路的线性度与动态范围。

发表于 2025-5-12 18:33

通过SPI/I2C接口读写外部EEPROM（如24C128），验证通信协议的时序合规性及数据完整性；针对CAN总线接口，可模拟发送标准帧/扩展帧，检测总线仲裁机制与错误帧处理能力。

发表于 2025-5-12 19:35

在芯片启动阶段，自检程序会验证外部高速晶振（4~32MHz）和低速晶振（32.768kHz）的起振时间与频率稳定性，确保RTC实时时钟及系统时钟源的可靠性。

发表于 2025-5-12 22:27

启动阶段故障隔离，在芯片复位后，自检程序优先执行关键模块的初始化检测。若检测到Flash存在ECC校验错误或SRAM出现硬件奇偶校验错误，将触发不可屏蔽中断（NMI）并进入安全状态，防止故障扩散。

发表于 2025-5-13 08:25

运行期健康监控，通过独立看门狗（IWDG）定时检测主程序执行状态。若主程序因干扰导致PC指针异常，IWDG将触发系统复位，并在复位日志中记录故障代码，辅助故障定位。

发表于 2025-5-13 10:51

环境适应性测试，针对工业场景的宽温需求（-40℃~105℃），自检程序可包含温度传感器校准流程，通过读取内部温度传感器值并与外部高精度探头对比，动态调整模拟电路的偏置电压，确保高温/低温环境下的性能一致性。

发表于 2025-5-13 11:39

可以通过UART接口输出自检报告，详细列出各模块的测试结果（如ADC的INL/DNL误差、GPIO的驱动能力等），帮助开发者快速定位硬件设计缺陷。

发表于 2025-5-13 13:20

将自检程序集成至量产测试工装，实现自动化测试流程。例如，通过测试向量（Test Vector）对Flash进行全地址擦写验证，确保10万次擦写寿命内的数据保持能力。

发表于 2025-5-14 08:39

自检程序一般就是启动之后先对关键功能模块进行自检，判断是否正常。

发表于 2025-5-22 22:19

这个自检程序有历程吗

[N32G43x] 自检程序N32G435