调试时能否加载MCU闪存而不是加载外部闪存

发表于 2025-6-28 10:57

在调试模式下，是否有办法重新加载MCU闪存，而不是连接到QSPI的外部闪存？

CubeIDE需要一段时间才能重新编程外部闪存。

不修改外部闪存数据之间的调试回话，这样会节省我很多时间。

发表于 2025-7-4 16:16

调试脚本或命令可以编写脚本来自动化完成重新加载MCU内部闪存的操作，包括擦除旧数据、写入新数据以及验证写入结果等步骤。

发表于 2025-7-5 09:15

可以使用调试器直接连接MCU，并通过其提供的编程接口将新的固件或数据写入MCU的内部闪存

发表于 2025-7-5 11:47

一些高级的调试工具或开发环境允许用户编写调试脚本或发送特定的命令来控制调试过程

发表于 2025-7-5 16:55

某些MCU允许通过配置内存映射来改变不同存储区域的访问方式

发表于 2025-7-5 19:39

可以将外部闪存的地址空间映射到其他未使用的区域，或者将内部闪存的地址范围扩展到原本分配给外部闪存的区域

发表于 2025-7-5 22:06

如果不想实际修改硬件连接或重新烧写闪存，可以使用软件模拟器来模拟MCU的行为

发表于 2025-7-6 10:01

对于复杂的嵌入式系统，可能需要同时模拟多个组件之间的交互

发表于 2025-7-6 12:19

如果MCU已经配备了Bootloader，可以考虑对其进行定制和扩展，添加专门用于调试的功能

发表于 2025-7-6 14:55

利用Bootloader的跳转功能来实现内部闪存的重新加载

发表于 2025-7-6 17:21

联合仿真技术，将MCU模型与其他相关的模型结合在一起进行仿真。在这个过程中，同样可以对MCU的内部闪存进行读写操作，以测试整个系统的功能和性能

[STM32F1] 调试时能否加载MCU闪存而不是加载外部闪存