关于ADC过采样的问题

发表于 2025-9-9 16:30

两个采样点的时间间隔较长，可能会引入更多的噪声。

发表于 2025-9-9 18:51

连续采样因流水线导致的样本相关性问题，尤其适合高频信号场景。

发表于 2025-9-9 20:36

设置ADC为2MSPS采样，然后对每两个采样数据求平均。这样可以保持采样点的均匀性，同时通过平均提高精度。

发表于 2025-9-10 10:59

可以方便地扩展为多通道采样或动态调整采样率。

发表于 2025-9-10 12:54

采样点均匀，抗混叠性能好，控制灵活，是更优的选择。

发表于 2025-9-10 14:43

在DMA中断中，每两个采样数据求平均，得到1MSPS的有效数据。

发表于 2025-9-10 15:20

可以用芯片adc的过采样功能

发表于 2025-9-10 16:41

第二种方法更优，因为它保持了采样点的均匀性，有利于信号的准确重建。

发表于 2025-9-10 18:50

避免因不均匀采样引入的高频噪声混叠。

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