关于ADC过采样的问题

发表于 2025-9-9 16:30

两个采样点的时间间隔较长，可能会引入更多的噪声。

发表于 2025-9-9 18:51

连续采样因流水线导致的样本相关性问题，尤其适合高频信号场景。

发表于 2025-9-9 20:36

设置ADC为2MSPS采样，然后对每两个采样数据求平均。这样可以保持采样点的均匀性，同时通过平均提高精度。

发表于 2025-9-10 10:59

可以方便地扩展为多通道采样或动态调整采样率。

发表于 2025-9-10 12:54

采样点均匀，抗混叠性能好，控制灵活，是更优的选择。

发表于 2025-9-10 14:43

在DMA中断中，每两个采样数据求平均，得到1MSPS的有效数据。

发表于 2025-9-10 15:20

可以用芯片adc的过采样功能

发表于 2025-9-10 16:41

第二种方法更优，因为它保持了采样点的均匀性，有利于信号的准确重建。

发表于 2025-9-10 18:50

避免因不均匀采样引入的高频噪声混叠。

发表于 2025-11-14 17:20

默认配置下 ADC 工作时钟是 32M，对应 2MHz 的转换数据率

发表于 2025-11-17 13:38

lks45x系列支持过采样模式

发表于 2025-12-2 11:55

ADC 过采样是通过高于奈奎斯特频率的速率采样，再经数字滤波抽取数据，以提升分辨率（每倍频采样提升约 1 位精度）和抑制噪声。应用中需注意：采样率过高易导致 DMA 传输压力、占用过多 MCU 资源；滤波算法不当可能引入延迟，在电机高转速场景下，延迟会影响电流采样实时性，反而可能间接增大纹波，需结合需求平衡采样率、滤波方式与实时性。

发表于 2025-12-5 23:15

定时器控制ADC连续采样两次，然后将两次数据相加取平均。

发表于 2025-12-6 13:43

默认ADC工作频率为32MHz，转换率为2MHz。

发表于 2025-12-7 15:51

ADC过采样可以提高分辨率，但需注意处理后的数据量和计算量增加。确保采样率符合系统需求，同时优化滤波算法。

发表于 2025-12-8 19:39

间隔合适，便于准确捕捉信号波动。

发表于 2025-12-11 21:03

重复采样可减少误差，提高数据准确性。

发表于 2025-12-16 10:46

这样的设计能根据需求灵活改变，适用于多路信号采集和采样速度调节。

发表于 2025-12-16 15:12

芯片的ADC过采样能提高信号分辨率，减少噪声干扰，提升测量精度。

发表于 2025-12-17 22:10

DMA中断每获取两份数据，计算平均值生成1毫秒一个的稳定数据流。

[LKS32 硬件] 关于ADC过采样的问题

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