主 题:嵌入式设计调试技术与高级时频域联合分析
演讲人:焦宝春
时 间:2013-12-19 10:00:00
简 介:当今嵌入式设计的工作频率越来越高,大量与射频相关的技术广泛使用。随着系统时钟频率的升高和高速总线接口的使用,突发性的EMI问题也日趋严重。设计人员常常面对必须将时域信号与射频信号综合分析的难题。传统的示波器和频谱分析设备不能有效地分析这些问题的根本原因,发现产生故障的根源。来自罗德与施瓦茨公司最新的示波器技术,具有强大的模拟、数字和总线信号的分析功能。更为独特的是集成了数字下变频技术、重叠FFT算法,配合高精度的ADC和低底噪的模拟前端,可以实现实时频谱分析功能。结合模拟通道和数字通道的时域联合触发,R&S示波器可以提供独特的故障调试手段,成为时域和频域联合分析的有力工具。
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