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高级技术员
PowerAnts 发表于 2016-1-19 17:20 PC95在低频的比损耗与PC40相比并无太大的优势, 磁损不可能比0.3%小太多
使用特权
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总工程师
zrs 发表于 2016-1-19 17:45 关键我的是本来就是低温下测试的,变压器温度很低,和室温差不多。加上ui大,匝数也不少了,磁损就比PC40 ...
PowerAnts 发表于 2016-1-19 20:20 前面4W的磁损,是每个PC40材质的PQ50在90-100度的磁损,PC95的最佳温度会小一些,大约比PC40小25%。若是 ...
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2016-1-19 21:59 上传
zrs 发表于 2016-1-19 21:59 做个MOS管的测试而已,也没有计较这么多,5KW的东西是4W还是3W的磁芯损耗根本就没有在意,只是根据以前的 ...
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助理工程师
fzy_666 发表于 2016-1-20 08:41 做好电源的都是大师啊
zrs 发表于 2016-1-19 22:34 大致算了下4300W时磁芯损耗10W,铜损4W,高压二极管损耗9W,MOS损耗7.5W,驱动损耗3.5W,保险丝损耗2W,这里算 ...
PowerAnts 发表于 2016-1-20 10:24 OK, 磁损没有争议了, 我接受你所说的PC95材质的损耗2.5W左右. 不过下面的项还有待确认: 1, 铜损4W, 不知 ...
zrs 发表于 2016-1-20 11:58 二极管确实是计算错误,应该是16-18W。铜损是按照I*I*R加上20%的交流损耗计算的。这样还是和实际测试相差 ...
PowerAnts 发表于 2016-1-20 12:18 我想, 铜损计算上, 你可能没有将平均输入电流折算成正弦电流, 有效值会增加11.1%, 热损会增加23.5%, 我算 ...
zrs 发表于 2016-1-20 14:18 万用表只是每年校准一次,肯定是合格的,至于误差多少没有纠结。这个电源i并不是产品,只是测试MOS管而已 ...
PowerAnts 发表于 2016-1-20 14:46 没有说你的万用表不合格的意思, 你前文也说过, 万用表标称+/-0.25%, 那么极端情况下, 输入级读数-0.2%, ...
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2016-1-20 15:15 上传
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zrs 发表于 2016-1-20 15:11 IR在7,8年前的这个管子是封装在TO-247里面吧?要是这样,我们的TO-247封装的就是3MR了。 ...
PowerAnts 发表于 2016-1-20 15:14 你的意思是, IR这七八年来一点进步都没有? 不过去年被INF收购了, 部份型号可能"被停产"倒有可能. ...
zrs 发表于 2016-1-20 15:16 那是你自己硬要拿我们现在的产品和人家七八年前的产品比。
PowerAnts 发表于 2016-1-20 15:32 对比有什么不好的吗? 晶片定型了, 体电阻也就固定了, 封装有一定的影响, 但不会太大. 倒是热阻的差别比较 ...
zrs 发表于 2016-1-20 15:36 不是的,TO-220里面的芯片已经到了TO-220里面框架能封装下去的极限,如果我采用TO-247封装,能封装下去的 ...
PowerAnts 发表于 2016-1-20 15:45 如果真是这么容易, 或是有必要的话, 我觉得你们早就做了. 你们是超结技术吗? 专利过期, 国内很多厂商在做 ...
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