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光耦长期使用会老化吗？

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楼主
davali|  楼主 | 2011-1-22 17:32 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
光耦, 接口, 模拟, 隔离, pc817
我用2个PC817做模拟量隔离输入接口，实验很成功。但我不知道，光耦长期工作传输比会不会漂移啊？

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沙发
PowerAnts| | 2011-1-22 17:36 | 只看该作者
任何器件都会老化，注意找datasheet中的工作极限参数，合理降额使用

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板凳
maychang| | 2011-1-22 17:44 | 只看该作者
会老化。表现为电流传输比降低，最终失效。
降额使用，可以大为延长光耦寿命。

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地板
PowerAnts| | 2011-1-22 17:45 | 只看该作者
PC817不是线性光耦，做模拟量传输，要注意其传输比的非线性

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5楼
chunyang| | 2011-1-22 17:54 | 只看该作者
普通光耦的线性区很窄，而且会随时间发生漂移，正规产品不应如此使用。

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6楼
李冬发| | 2011-1-22 19:55 | 只看该作者
经过实验证实此法不可行，LZ你还是放弃这个方法吧。

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7楼
mmax| | 2011-1-22 20:18 | 只看该作者
给LZ一副图，

截图00.jpg (16.54 KB )

截图00.jpg

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8楼
yewuyi| | 2011-1-22 20:44 | 只看该作者
呵呵,此类情况,俺一般只送他一句话:

未来,将不掌握在你手中。

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9楼
davali|  楼主 | 2011-1-22 23:01 | 只看该作者
这是某书上推荐的，真的不能长期用啊。我是真不想浪费了单片机的A/D资源呢。

tmp.JPG (66.87 KB )

tmp.JPG

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10楼
mmax| | 2011-1-22 23:04 | 只看该作者
如果是同一个封装内的两个光耦单元，应该可以。
因为参数衰减是一致的，只要匹配就好。

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11楼
chunyang| | 2011-1-22 23:09 | 只看该作者
同一个封装内只是工作环境类似，情况可以改善些，但光耦的制造工艺仍不是真正匹配的，关键是时间衰减性无法解决，否则不必用昂贵的线性光耦或者麻烦的各种变换了。

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12楼
davali|  楼主 | 2011-1-22 23:20 | 只看该作者
5,6,8楼的，你们说说，若用像PC817-2或PC827用上所示的图长期工作可行吗？
如果用俩同批次的单独光耦也行不通吗？

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13楼
davali|  楼主 | 2011-1-22 23:23 | 只看该作者
按chunyang所说，看来我只能放弃单片机的A/D了

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14楼
chunyang| | 2011-1-22 23:42 | 只看该作者
这跟是否放弃片内AD无关吧。

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15楼
maychang| | 2011-1-22 23:52 | 只看该作者
13楼：
要使用单片机的A/D，不妨让单片机与信号源不隔离，隔离单片机的输出(数字信号)。

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16楼
davali|  楼主 | 2011-1-22 23:58 | 只看该作者
chunyang， 我做工控，原来的单片机系统A/D不隔离，传感器有时候20多米远，现在问题主要是雷击造成整个系统报废，再就是抗干扰差。

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17楼
davali|  楼主 | 2011-1-23 00:00 | 只看该作者
maychang，没明白你的意思。 有很多人这么做，用单独A/D芯片并单独供电, 与单片机接口用光耦。这样做成本稍高了些

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18楼
chunyang| | 2011-1-23 00:04 | 只看该作者
模拟信号的隔离可以用线性光耦，还可以用磁耦合、开关电容耦合等办法。

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19楼
maychang| | 2011-1-23 00:07 | 只看该作者
16楼：
雷击和抗干扰性差，可以通过输入端加滤波和电压箝位等等方法解决，不是一定要用光耦不可。

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20楼
davali|  楼主 | 2011-1-23 00:11 | 只看该作者
chunyang大虾，不想浪费单片机的A/D资源就是想降低成本，若用线性光耦，还可以用磁耦合、开关电容耦合等办法那成本要高出多少倍啊

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