光耦长期使用会老化吗？

发表于 2011-1-22 17:32

我用2个PC817做模拟量隔离输入接口，实验很成功。但我不知道，光耦长期工作传输比会不会漂移啊？

发表于 2011-1-22 17:36

任何器件都会老化，注意找datasheet中的工作极限参数，合理降额使用

发表于 2011-1-22 17:44

会老化。表现为电流传输比降低，最终失效。
降额使用，可以大为延长光耦寿命。

发表于 2011-1-22 17:45

PC817不是线性光耦，做模拟量传输，要注意其传输比的非线性

发表于 2011-1-22 17:54

普通光耦的线性区很窄，而且会随时间发生漂移，正规产品不应如此使用。

发表于 2011-1-22 19:55

经过实验证实此法不可行，LZ你还是放弃这个方法吧。

登录 · 发表于 2011-1-22 20:18

给LZ一副图，

发表于 2011-1-22 20:44

呵呵,此类情况,俺一般只送他一句话:

未来,将不掌握在你手中。

登录 · 发表于 2011-1-22 23:01

这是某书上推荐的，真的不能长期用啊。我是真不想浪费了单片机的A/D资源呢。

发表于 2011-1-22 23:04

如果是同一个封装内的两个光耦单元，应该可以。
因为参数衰减是一致的，只要匹配就好。

发表于 2011-1-22 23:09

同一个封装内只是工作环境类似，情况可以改善些，但光耦的制造工艺仍不是真正匹配的，关键是时间衰减性无法解决，否则不必用昂贵的线性光耦或者麻烦的各种变换了。

发表于 2011-1-22 23:20

5,6,8楼的，你们说说，若用像PC817-2或PC827用上所示的图长期工作可行吗？
如果用俩同批次的单独光耦也行不通吗？

发表于 2011-1-22 23:23

按chunyang所说，看来我只能放弃单片机的A/D了

发表于 2011-1-22 23:42

这跟是否放弃片内AD无关吧。

发表于 2011-1-22 23:52

13楼：
要使用单片机的A/D，不妨让单片机与信号源不隔离，隔离单片机的输出(数字信号)。

发表于 2011-1-22 23:58

chunyang，我做工控，原来的单片机系统A/D不隔离，传感器有时候20多米远，现在问题主要是雷击造成整个系统报废，再就是抗干扰差。

发表于 2011-1-23 00:00

maychang，没明白你的意思。有很多人这么做，用单独A/D芯片并单独供电, 与单片机接口用光耦。这样做成本稍高了些

发表于 2011-1-23 00:04

模拟信号的隔离可以用线性光耦，还可以用磁耦合、开关电容耦合等办法。

发表于 2011-1-23 00:07

16楼：
雷击和抗干扰性差，可以通过输入端加滤波和电压箝位等等方法解决，不是一定要用光耦不可。

发表于 2011-1-23 00:11

chunyang大虾，不想浪费单片机的A/D资源就是想降低成本，若用线性光耦，还可以用磁耦合、开关电容耦合等办法那成本要高出多少倍啊