边界扫描协议是联合测试工作组（JTAG：Joint TEST action GROUP）提出了，并于1990 年形成了IEEE 1149.1 工业标准。该标准通过设置在器件输入输出引脚与内核电路之间的边界扫描单元对器件及外围电路进行测试，从而提高了电路板的可测性。边界扫描就像一根"虚拟探针"，能够在不影响电路板正常工作的同时，采集芯片引脚的状态信息，通过分析这些信息达到故障诊断功能。
利用并通过灵活应用JTAG技术，软件自定义技术和灵活的硬件配置可自定义测试，从而可以对电路板连接性，电压、电流、电阻和功能信号进行测量和分析，满足电路板的结构和功能测试需求，从而实现复杂的电路板自动化测试。
如下图所示，一个符合IEEE1149.1边界扫描标准的器件有别于不同的逻辑器件，首先JTAG器件（即符合边界扫描技术的器件）内部都包括一个TAP（测试访问端口）控制器，其次在芯片内部经由一个扫描链路将所有的输入和输出管脚全部串入一个扫描链路。通过JTAG接口，可以实现对芯片所有的IO管脚的输入输出的控制。
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JTAG测试技术的原理就是通过对带有JTAG功能的器件的IO的控制，同时根据电路的拓扑结构，通过管脚的0,1序列来诊断和确定电路的功能，开路，短等故障。
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边界扫描技术的主要优点
缩短产品面世时间
产品研发的初期，样板一般处在小批量状态，产品生产工艺一般不稳定，通过JTAG技术可以迅速定位样板的开短路故障，帮助工程师节约大量测试时间，加快产品研发进程，同时测试程序可以直接从产品设计中转移而来，可以缩短产品后续阶段的时间。
降低测试成本
投入的资本仅占常规ATE 设备的很小一部分； 简化测试准备过程，降低测试准备成本； 快速准确的定位故障； 具有较大的故障覆盖率。
提高产品的质量和可靠性
可使产品在更接近实际的工作条件下进行测试；进行电路元件的彻底测试； 最终产品种可内建基于边界扫描的故障诊断； 提高了产品的可维护性。
降低产品成本
采用JTAG 加载FLASH，不需要CPU 工作，只需要PCB 上电就可进行，可以将Bootrom 和Flashrom 结合起来，统一烧制到Flashrom 中，这样可以在电路板上省去Bootrom 芯片及其PLCC 插座，不仅降低了物料成本，简化了生产工序，也优化了生产流程，减少了产品的不稳定性。- 边界扫描技术对产品全生命周期中应用的支持
边界扫描技术可以应用于产品生命周期的全过程，具体可以用于产品设计、硬件原型调试、生产测试、系统测试和现场安装服务等过程。在产品生命周期不同阶段的 应用中，可以使用相同的边界扫描硬件控制器，使用同一个软件的框架，使用同样的产品描述文件和测试矢量，只是根据不同的应用阶段的不同认为，执行不同的操 作。
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如有对这项技术感兴趣的 可联系我 加我QQ 740018599
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