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本次我们来介绍嵌入式可测试软件设计。 什么是可测试性？就是你这个软件模块/函数接口写完之后，可以较为方便、较为全面地进行自测 。 举个简单的例子来认识可测试性软件。 有一个计算函数cal_func，其计算依赖于存在flash里的数据a，与一个外部输入的数据b。
此时，有如下两种实现方法： 方法一： int get_a_from_flash(void)
{
int a = 0;
flash_read(&a, sizeof(int));
return a;
}
int cal_func(int a, int b)
{
int res = 0;
res = a + b;
return res;
}
// 调用
cal_func(get_a_from_flash(), 5);
int get_a_from_flash(void)
{
int a = 0;
flash_read(&a, sizeof(int));
return a;
}
int cal_func(int b)
{
int res = 0;
int a = get_a_from_flash();
res = a + b;
return res;
}
// 调用
cal_func(5); 方法二： int get_a_from_flash(void)
{
int a = 0;
flash_read(&a, sizeof(int));
return a;
}
int cal_func(int a, int b)
{
int res = 0;
res = a + b;
return res;
}
// 调用
cal_func(get_a_from_flash(), 5);
这种类似场景，实际开发中应该有不少，大家平时都是按照方式一写代码还是方式二写代码呢？ 从可测试性的角度来看， 方法二的实现，更具备可测试性 。 方式一，因为有一个数据是在函数内部从flash中读取的，所以这个数据我们不太方便进行控制，而能控制的只有参数b。那么，这样子，我们在调用测试时，测得就不是很全，也不能灵活地控制测试路径。 方式二，计算所依赖的数据都通过函数参数留出来了，我们可以很方便地对函数进行测试，可以很方便地输入不同的数据组合。 并且，一般地，我们会引入一些 单元测试框架 ，用来统一管理我们的测试例子。
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