GD32F303的ADC0通道17连接到一个内部的带隙基准，手册里面只是稍微提了一下，没有具体参数，与使用方法。
我试着配置成规则扫描，DMA触发，用了其他3通道+通道17内部参考。ADC时钟30M，采样周期 28.5(+12.5)。
然后发现一个神奇的现象，就是其他通道输入值会把这个内部参考采样到的值改变。
平时这个值测出来是1.2V，温飘是真的小，肯定小于80ppm，实测效果比我外接的一个80ppm的电压基准好。用来反推外部参考电压3.3V还是挺好用的。
就是其他ADC通道输入电压值，就会改变这个值，会减小到1V以下。
后来不是官方有个例程，里面是把它和内部温度一起配置的，配置成注入组的，采样周期是239.5(+12.5)。
我试着将它的采样周期单独改成239.5(+12.5)，好像就好了，也不会受到影响。
71.5(+12.5)，55.5(+12.5)也行。
41.5(+12.5)开始就不行了，就会受到其他通道的影响。
55.5(+12.5)/30 = 2.2667us。
(41.5 + 12.5) / 30 = 1.8us。
随后，我把主频从120M降到100M。ADC频率即变成25M。
(41.5 + 12.5) / 25 = 2.16us。
这时候也不会受到影响。
手册里面倒是有提到内部温度采样时间不要低于17.1us。
所以我想问问，内部基准是不是也有这种说法。 |
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