关于ADC的自动校准

发表于 2009-9-23 09:49

我们在使用ADC的时候
一般都会第一次开启ADC的时候进行一次校准

我想请问一下
如果在运行过程MCU温度变化了 MCU内部温度上升或者下降了几度
这个时候需不需要再次校准一下？

如果需要校准的时候需要注意些什么呢？
查到了一个，原理与实践书上说的：启动校准前，ADC必须处于关电状态(ADON=’0’)超过至少两个ADC时钟周期。

还有别的需要注意的嘛吗？

发表于 2009-9-23 11:17

ADC校准的目的是：大幅减小因内部电容器组的变化而造成的准精度误差。

在STM32的参考手册上提到2点注意事项：

发表于 2009-9-23 12:47

嗯谢谢香主了·····

发表于 2009-9-23 18:46

对于长时间运行的设备
可能几个月或几年才关机一次
那么，校准问题怎么考虑呢？

发表于 2009-9-23 23:05

如果是这样的话，建议在环境发生变化时(如电压、温度等)，做一下校准。

发表于 2009-9-23 23:59

顶我就是想着检测mcu温度
每变化一度就做一次校准

发表于 2009-9-24 09:32

每变化一度就做一次校准，太频繁了，测量误差都会超过1度。
变化5度做一次校准，更合适

发表于 2009-9-26 14:01

检测温度的时候可以去最大最小取平均值跳动已经很小了
温度基本上是对的 2度校准一次不会很频繁的····
不过我要的是相对ADC差
而不是绝对精度
不知道这个校准意义大不大
感觉上来说 ADC校准的目的是：大幅减小因内部电容器组的变化而造成的准精度误差。
如果存在这个误差那么所有的ADC检测都存在
那么相对ADC差值也是一致的

发表于 2009-9-26 16:08

如果不关心绝对精度，只关心相对的差值，可以不做校准。

详细请看ST网站上的应用笔记：http://www.st.com/mcu/modules.php?name=mcu&file=familiesdocs&FAM=110

AN2834

How to get the best ADC accuracy in STM32F10xxx devices

1

Nov-200

ST中文网站有译文。

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