STM32F4的ADC如何校准？

发表于 2012-4-28 23:23

使用STM32F417VGT的ADC测量同一个模拟电压值（比如557.8mV），每次复位后的测量值不一致，有时为554~556mV，有时为557~559mV。之前使用STM32F107ADC开始转换之前可以校准一下，为什么STM32F4没有这个功能呢？这个问题该如何解决？

发表于 2012-4-29 10:48

AD测量的数据本来就有偏差，如果分辨率越高，则偏差越小。你可以换个大分辨率的adc芯片

发表于 2012-4-29 14:00

我之前使用过STM32F107试过，ADC数据很稳，而且使用前还可以先校准一下。选芯片的时候考虑到STM32F4的168M速率，选了stm32F417，数据波动较大，后来尝试加滤波电容，然后软件滤波取平均值总算好了一下，但是却发现4系列的ADC没有校准功能，寄存器和1系列都一致，但是那两个校准控制位编程无效了，这是怎么回事？

发表于 2012-4-29 20:53

估计是取消了。

发表于 2012-4-30 10:32

每次复位后的测量值不一致，这个问题该如何解决？有没有人用过STM32F4的ADC，测量效果怎么样?

发表于 2012-5-3 11:25

Vref外接参考电压2.000V没问题吧？

发表于 2012-5-8 16:28

本帖最后由 PowerSource 于 2012-5-8 16:37 编辑

STM32F4的ADC软件校准应该是取消了，手册里面应该说明一下（也可能我没看到..）。估计这个取消只是为了软件编程更简洁一些吧！显然，要使用ADC，对1系列而言，总是需要先校准，那么不如ADC使能后自动完成校准。猜测而已，希望能得到确认！

STM32F4的ADC如何校准？

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