运放输出至轨电压

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 楼主| vitohu 发表于 2023-12-12 20:49 | 显示全部楼层 |阅读模式
运放输出电阻大小 的影响,这部分实在没看懂,有解释下的吗?

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lfc315 发表于 2023-12-13 09:20 | 显示全部楼层
简单理解,就是现在的工艺下,运放输出内阻不可能为零。
这个内阻与负载产生分压,导致负载上得到的电压,不可能百分百为电源电压或者0V。
运放A空载,运放B负载10k,那么自然是A输出电压更接近电源轨。
那段话也只是猜测,起码“第一级运放负载很轻”这个观点是有问题的。
只是原因大概率确实是运放没法输出百分百的轨电压。
lfc315 发表于 2023-12-13 09:32 | 显示全部楼层
运放是由晶体管/场效应管组成。
晶体管/场效应管的特性,及内部电路结构,造成了运放很难输出百分百的轨电压。
 楼主| vitohu 发表于 2023-12-13 14:26 | 显示全部楼层
lfc315 发表于 2023-12-13 09:20
简单理解,就是现在的工艺下,运放输出内阻不可能为零。
这个内阻与负载产生分压,导致负载上得到的电压, ...

明白了,作者应该说最小输出电压不可能为0,这样我就理解了
zlf1208 发表于 2023-12-14 08:29 | 显示全部楼层
vitohu 发表于 2023-12-13 14:26
明白了,作者应该说最小输出电压不可能为0,这样我就理解了

1. 测失调电压应该采用正负电源,而不是单电源;
2. 在电路本身的极限位置附近测芯片的参数也是不合适的。

所以这本书有点误人子弟。建议楼主换一本国外的书学习吧。
Siderlee 发表于 2023-12-16 09:52 | 显示全部楼层
zlf1208 发表于 2023-12-14 08:29
1. 测失调电压应该采用正负电源,而不是单电源;
2. 在电路本身的极限位置附近测芯片的参数也是不合适的 ...

学好英语的重要性

很多东西还是用找个东西正确的记录了下来
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