快速瞬变脉冲群测试的失败原因及对策

登录 · 发表于 2013-5-8 12:58

介绍了电子产品快速瞬变脉冲群形成机理及相应的测试方法，综合其他研究者的成果及笔者的实践
经验．针对快速瞬变脉冲群影响电子产品的不同特点提出了相应的埘策方案，以方便电子产品设计人员及电磁
兼容对策工程师在实际工作中参考、验证、改进和完善。

发表于 2013-5-8 15:49

收了

发表于 2013-5-10 12:47

脉冲群干扰是暂时干扰，一般测试后设备会工作正常

发表于 2013-5-14 08:54

这个要顶

发表于 2013-5-20 23:45

现对于系统来说，脉冲群干扰时也要正常工作，能给点实例更好。

发表于 2013-5-23 14:16

顶

发表于 2013-6-25 12:55

EFT干扰以前处理过，有时候软件处理也很有用。例如读U盘的音箱，遇到EFT干扰时，会干扰USB的通信，只能通过软件做容错与避开干扰的处理。做到能断断续续的工作。EFT干扰太强，一般是影响数据线的传输，基本不会令器件挂掉。

发表于 2013-6-26 00:26

fanbokong 发表于 2013-6-25 12:55
EFT干扰以前处理过，有时候软件处理也很有用。例如读U盘的音箱，遇到EFT干扰时，会干扰USB的通信，只能通过 ...

脉冲群一般不会使器件损坏，只是暂时的故障

发表于 2013-6-26 12:43

学习了，刚好昨天刚做了EFT测试

发表于 2013-7-9 14:52

mark

发表于 2013-7-21 09:55

工业类产品基本上都要通过EFT实验才行

发表于 2013-7-21 15:05

脉冲群测试是很常见的一项测试

发表于 2021-5-20 08:52

看看看围观

发表于 2021-5-24 22:17

学习一下，版主热心肠