[运放] PhotoDiode运放不理解的地方
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太复杂的确实不行,采样完成后 ,最多3ms必须全部计算完成,这对于ln这些计算是越少越好,
多的话,modbus 串口 被阻塞 接收就不好了
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这里我设计的没有加环氧树脂,是不是运放 CPU 这里受潮 或者什么会导致高精度不准,所以加环氧?
密封了可靠更强?
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RE: PhotoDiode运放不理解的地方
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@Jack315 :这款进口的产品,老外从设计2003年开始设计当时只能2°C 分辨率,改了十几年一代一代升级到现在 稳定到 精度0.3°C , 分辨率0.1°C . 用很少的器件实现。
当然他们有另外一款DSP+定制ADI芯片的 高端产品 精度还要高,这个好几年前就实现了。
@Jack315 :是的,但目前受限于进口产品的思路,他们是必须设置一个默认点3000。 有些比如20米长的光纤,无论如何都达不到3000的,可以设置2000。 这是一个可设置参数。一旦设置了,系统就会按着设置值跑,因为寄存器里可以看到这个 设置值3000, 或者2000, 它以±1%的误差 恒定出现
@〽️〽️〽️ :没有现成的数据就不要了,等以后硬件、软件都搞定后再来。测温时,好象不必一定要 3000 的那个固定值,因数荧光寿命时间与光强无关。只要时间等间隔的采样数据就行。至于光纤不同长度对光强的影响,应该有一些方法可以解决的。也是等以后再来试验。
这个是这样的,不同长度的光纤我可以搭建出来测下数据
情况是如下: 30cm~10米的不同长度, 在相同温度下测 肯定是温度一样的,比如都是测的25.2°C
唯一不同的就是 DAC输出, 10米的必定要DAC输出大,这样LED发光强了,才能在关闭LED后等待固定的us时间抓到3000那个ADC值。随后 里面怎么采样怎么算法的进口的我就不得而知了,没有源代码。
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这个“噪声”看起来是个周期信号,频率目测为 2.2 Hz。想像不出来这个“噪声”来自哪里。
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@不奇怪 :由于单片机的资源所限限,现在也不考虑数字滤波。在软件里频谱的混叠也不准备修复,而是通过校准来进行修正。在以后 LZ 考虑数字滤波的时候,或许可以考察下在没有模拟 LPF 的情况下,性能究竟是否会受到影响。估计这应该是 LZ 下一代产品里要考虑的事了。
@不奇怪 :感谢大侠的参与,望能发贴详述。以目前情形看,在极点对应的频率设置过大时已影响到了正常测温,就是 LZ 说的不稳定。采样保持后信号(包括噪声)频谱必然发生混叠。SAR ADC 前加 LPF 貌似是提高 SNR 的常规操作。如果没有这个LPF,测温的精确度(分辨率)可能会受到影响。
@Jack315 :本来像这种尖刺型的干扰,软件可以通过时域滤波去掉,现在你先用硬件做频域滤波,使得软件时域滤波变得非常困难。同时修复频谱混叠其实就是频域滤波的逆运算,何必呢?----非常费时且不必要。
不能用滤波去除噪声 ,会改变荧光衰减指数。改变c1 c5时间常数增加660uS,而且增至少两种伪信号。
试了下,是稳定的,但是 C5改大后 出现不同长度的光纤,测温相差甚远,有5°C以上
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