[STM32H5] ADC每次开始采样直流电压时,会出现尖峰波形?

[复制链接]
7191|96
yorkbarney 发表于 2025-2-14 17:16 | 显示全部楼层
ADC 的驱动程序编写不当,可能会导致采样数据的读取和处理出现错误,从而在最终的结果中表现为尖峰波形。另外,如果在采样过程中存在中断或其他任务的干扰,也可能会影响 ADC 的工作,导致出现异常的采样结果。
averyleigh 发表于 2025-2-14 17:35 | 显示全部楼层
电磁干扰或静电放电(ESD)可能导致ADC输入信号出现尖峰。可以通过增加屏蔽、使用差分信号传输等方法减少干扰
jackcat 发表于 2025-2-14 18:04 | 显示全部楼层
如果ADC的参考电压不稳定,也可能导致采样结果出现尖峰
hilahope 发表于 2025-2-14 18:29 | 显示全部楼层
在ADC输入端添加适当的滤波电容,以平滑输入电压并减少尖峰。
sdCAD 发表于 2025-2-14 18:50 | 显示全部楼层
根据 ADC 的采样频率和输入信号的特性,合理调整 RC 时间常数。一般来说,RC 时间常数应足够小,以确保电容能够在采样周期内快速充电或放电,但也不能过小,以免失去滤波效果。
cemaj 发表于 2025-2-14 19:05 | 显示全部楼层
输入阻抗不匹配或信号路径过长可能导致尖峰。应优化模拟前端设计,确保信号路径尽可能短,阻抗匹配良好
i1mcu 发表于 2025-2-14 19:40 | 显示全部楼层
电路板有良好的接地,并使用屏蔽线来减少外部电磁干扰。
uytyu 发表于 2025-2-14 20:08 | 显示全部楼层
在周期与周期采样比较的时候,采样开始的时候,DAC建立过程中,可能会有很大的尖峰脉冲。
ingramward 发表于 2025-2-14 20:50 | 显示全部楼层
确保输入阻抗匹配,并尽量缩短信号路径,以减少尖峰波形的产生。
AutoMotor 发表于 2025-2-16 14:08 | 显示全部楼层
ADC内部电路的某些特性,如采样电容的充电和放电过程,也可能在采样过程中引起尖峰。
lllook 发表于 2025-2-17 07:20 | 显示全部楼层
外部电磁干扰或静电放电(ESD)也可能干扰ADC的输入信号,导致尖峰。
nowboy 发表于 2025-2-17 21:50 | 显示全部楼层
外部电磁干扰或静电放电(esd)也可能干扰adc的输入信号,导致尖峰信号出现。
LinkMe 发表于 2025-2-18 06:58 | 显示全部楼层
ADC采样期间可能会捕捉到电源线路上的噪声,尤其是当采样频率与电源噪声频率同步时。
liubogx 发表于 2025-2-18 14:25 | 显示全部楼层
也有可能阻抗不匹配,可以增加运放搭建跟随器;
如果是阻容串扰,可以尝试在ADC输入通道增加100Ω电阻
V853 发表于 2025-2-18 19:48 | 显示全部楼层
如果ADC采样数据未经滤波,噪声和尖峰可能会留在采样结果中。
digit0 发表于 2025-2-18 23:00 | 显示全部楼层
选择噪声更低、性能更高的ADC,可以在一定程度上减少尖峰的出现。
wex1002 发表于 2025-2-20 16:16 | 显示全部楼层
外界因素可能对此产生影响,造成某种现象或结果。具体情形需进一步观察和分析。
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

快速回复 在线客服 返回列表 返回顶部